FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭可調光通比 C-mount接口)（觀察儀）
應用：

切割、修整、校正、給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

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更新時間：2024-12-09

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光學測量儀器

相機線寬測量儀光度儀/反射計偏振分析儀/旋光儀顯微OCT掃頻測振/磁光克爾探測卡/感應卡觀察儀/觀察鏡波前分析儀/波前傳感器示波器精密定位/光學平臺功率計自準直儀光譜分析儀脈寬測量(相關儀等) 光束/光斑質量分析儀干涉儀/標準具波長計相機/鏡頭/機器視覺

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品牌	其他品牌	貨號	E80100143
規(guī)格	1	供貨周期	現貨
主要用途	實驗	應用領域	電子/電池,電氣,綜合

FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭可調光通比 C-mount接口)（觀察儀）

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日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長，倍數高，能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭，顯微鏡系統(tǒng)的放大倍率可涵蓋20X到8000X，工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調范圍為50mm，精確調整分辨率可達0.1mm，并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。

FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

通用參數

特點

采用Mitutoyo遠場校正鏡頭

三端輸出設計可輕松接收視頻

轉盤可接最多四個物鏡

應用：

切割、修整、校正、給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

• 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

應用：晶體硅的內部觀察；紅外光譜特征分析。